Descreve-se os principios basicos de operacao do sistema Si(Li) em espectrometria de raios X e demonstra sua aplicacao na regiao de energias onde a capacidade de resolucao e melhor do que a exibida pelos espectrometros convencionais. Inicialmente, sao apresentados topicos dos fundamentos teoricos da interacao da radiacao eletromagnetica com a materia e uma revisao sobre semicondutores, destacando-se o fenomeno da fluorescencia e a deteccao de fotons por cristal semicondutor cujas propriedades e caracteristicas permitem, no caso do cristal de silicio, a confeccao de detectores com maior volume sensitivo, apropriados ao uso na espectrometria de raios X. A seguir, os componentes do sistema Si(Li) sao descritos individualmente, salientando-se aspectos de funcionamento, fenomenos e efeitos que afetam a qualidade do espectro de altura de pulso. Finalmente, o desenpenho do espectrometro e experimentalmente demonstrado atraves dos resultados obtidos de sua aplicacao na analise quantitativa dos oxidos dos elementos de terras raras La, Ce, Pr e Nd. Cabe ressaltar que o desenvolvimento dos trabalhos de pesquisa identificou o metodo emissao-transmissao de analise quantitativa de raios X como o mais adequado as condicoes de excitacao providas pelo espectrometro, onde Am²⁴¹ - emissor UPSILON de 60KeV - e o radioisotopo disponivel como fonte de fotons para a fluorescencia. Assim, para a aplicacao deste metodo, fez-se necessario estender a parte experimental alem do que era inicialmente previsto, a fim de incluir de forma ampla todo o tratamento requerido. (Autor)