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AbstractAbstract
[en] This technique was used to determine the thickness of targets on very thick substrates as this type of target is used a lot in nuclear physics, and especially in γ spectroscpy. The difficulties introduced in this case, occur because of the appearance of a small peak on a very high continuous background, due to the fact that the atomic number of the substrate is bigger than that of the targets. These difficulties are overcome using an alternative procedure to determine precisely the loss of energy of the beam whilst crossing the refered target. Targets of 59Co,46-48-50Ti and 10B on substrate of Pd and Ta, with thicknesses betwnn 30μg/cm2 and 500μg/cm2 were measured with a precision of 5%. The biggest sources of imprecision are the amounts of dE/dX. (Author)
[pt]
Esta tecnica foi utilizada para a determinacao de espessuras de alvos sobre substratos bastante espessos, sendo que este tipo de alvo e largamente utilizado em fisica nuclear e, particularmente, em espectroscopia gama. As dificuldades introduzidas, neste caso, decorrem do surgimento de um pequeno pico sobre um fundo continuo muito alto, devido ao numero atomico do substrato ser maior que o do alvo. Estas dificuldades sao superadas com a utilizacao de um procedimento alternativo para determinar precisamente a perda de energia do feixe ao atravessar os referidos alvos. Alvos de 59Co, 46-48-50Ti e 10B sobre substrato de Pb e Ta, com espessura entre 30μg/cm2 e 500μg/cm2 foram medidos com precisao da ordem de 5%. A maior fonte de imprecisao esta nos valores de dE/dX. (Autor)Original Title
Utlizacao da tecnica de retroespalhamento de Rutherford para medidas precisas de espessura por um procedimento alternativo
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27 Mar 1985; 11 p
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