Filters
Results 1 - 1 of 1
Results 1 - 1 of 1.
Search took: 0.021 seconds
[en] Radiation-induced profiles in the near-surface region of Fe-20Cr-20Ni alloy after irradiation with 50 keV Fe+ ions to fluences from 1019 to 1021 ion/m2 at 25 Deg C have been investigated by means of X-ray photoelectron spectroscopy in conjunction with ion sputtering. Radiation-induced segregation of Ni and depletion of Cr atoms and sputtering of surface are responsible for the profile formation. The segregation profiles of alloy components was shown to be governed by interstitial mechanism of diffusion in the observed fluence range and partial diffusion coefficient of Ni via interstitials is higher than the corresponding value for Cr
[ru]
С помощью метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в сочетании с ионным травлением исследованы профили концентрации компонентов сплава Fe-20Cr-20Ni после облучения ионами Fe+ с энергией 50 кэВ в интервале флюенсов от 1019 до 1021 ион/м2 при температуре 25 град C. Сегрегация атомов Ni и обеднение Cr, а также распыление поверхности обуславливают образование наблюдавшихся профилей. Показано, что междоузельный механизм миграции является определяющим в формировании сегрегационных профилей, причем парциальные коэффициенты диффузии Ni по междоузельному механизму выше соответствующих значений для CrJournal
Poverkhnost'. Rentgenovskie, Sinkhrotronnye i Nejtronnye Issledovaniya; ISSN 1028-0960; 
; (no.2); p. 48-51
; (no.2); p. 48-51