Filters
Results 1 - 1 of 1
Results 1 - 1 of 1.
Search took: 0.017 seconds
AbstractAbstract
[en] Considered is spectral noise of the main analytical lines of Au, Pt, Ta and Nb upon excitation of the spectra in the arc two-jet plasmatron upon atomic-absorption analysis. Automatic wave scanning and computer processing of the spectra make it possible to study spectra within the wavelength range of 240-274 nm and to determine the sensitivities (SA) of all six analytical lines and partial sensitivities (SI) of 37 interfering lines. The determined values Q1= SA / SI are used for subsequent evaluation of the spectral noise effect in the form of arbitrary concentrations cI that contribute to the measured value cR upon analysis of environmental objects that differ in chemical composition. The information thus obtained can be used in practice of atomic-absorption analysis with arc two-jet plasmatron
[ru]
Рассмотрены спектральные наложения на основные аналитические линии Au, Pt, Ta и Nb при возбуждении спектров в дуговом двухструйном плазматроне при атомно-эмиссионном анализе. С помощью автоматизированного волнового сканирования и компьютерной обработки спектров исследованы спектры в диапазоне длин волн 240-274 нм и найдены чувствительности (SA) для исследуемых шести аналитических линий и парциальные чувствительноости (SI) для тридцати семи мешающих линий. Определены значения QI= SA / SI, с помощью которых дана оценка величины спектральных помех в виде условных концентраций cI, вносящих вклад в измеренное значение cR, при анализе различных по химическому составу природных объектов. Представленная информация о спектральных наложениях может быть использована в практике атомно-эмиссионного анализа с дуговым двухструйным плазматрономOriginal Title
Issledovanie spektral'nykh pomekh dlya linij Au, Pt, Ta i Nb pri atomno-ehmissionnom analize
Primary Subject
Source
21 refs., 1 fig., 1 tab.
Record Type
Journal Article
Journal
Country of publication
Reference NumberReference Number
INIS VolumeINIS Volume
INIS IssueINIS Issue